是一种在荧光渗透探伤及磁粉探伤中测定黑光强度的仪器。随着科学技术的快速发展,尤其是紫外线测量领域的技术,人们对周围环境的要求很越来越高。传统的检测仪器逐渐不能满足测量的需求,而紫外辐照计由于采用宽谱线功率测量,探测器位于仪器的前端面。可用于光化学和探伤的紫外辐照度测量。
1. 建筑膜,太阳膜、隔热玻璃的阻隔性能测试;
2. 紫外线源(太阳,紫外灯)的辐射强度测量;
3. 紫外消毒,固化;
4. 气象和农业生产领域;
LBT-UV/A紫外辐照计(单通道)LBT-UV/A紫外辐照计(单通道)
LBT-UV/A紫外辐照计(双通道)
LBT-UV/B紫外辐照计(单通道)
LBT-UV/B紫外辐照计(双通道)
LBT-UV-M多通道型紫外辐照计
1、波长范围及峰值波长
(1)UV/365探头
λ:(320~400)nm; λP=365nm
(2)UV/420探头
λ:(375~475)nm; λP=420nm
2、辐照度测量范围:(0.1~199.9×103)μW/cm2
3、紫外带外区杂光:
UV365 小于0.02%
UV420 小于0.02%
4、准确度:±10%
5、 响应时间:1秒
6、使用环境:温度(0~40)℃;湿度<85%RH
7、尺寸:180mm×80mm×36mm;
8、重量:0.2kg
9、电源:6F22型9V积层电池一只