X射线干涉术

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概述

X-ray interferometry 利用 X射线相继通过多块布□格衍射晶体后产生干涉现象来研究晶体缺陷和测定晶体基本参量的一种精度技术。1965年第一台X射线干涉仪的出现，开辟了X 射线光学的新领域。常用的X射线干涉仪可分为两类。三晶干涉仪1965年U.邦泽和M.哈特研制成功透型X射线干涉仪。

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