闫永达

闫永达

学科 机械制造及自动化
中文名 闫永达
所属院系 机电工程学院
导师 董申教授
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研究方向

微纳米加工及检测

教育经历

1995年-1999年哈尔滨工业大学获学士学位

1999年-2001年哈尔滨工业大学获硕士学位

2001年-2007年哈尔滨工业大学获博士学位

2007年-2011年 哈尔滨工业大学 博士后

2005.12-2006.3 美国南卡罗来纳大学 访问学者

2002.7留校任教至今

科研成果

  1. 承担项目情况:国家自然基金青年基金项目、第一批博士后特殊资助、哈工大创新基金、黑龙江省青年基金、第42批国家博士后基金(一等)、微系统与微制造教育部重点实验室开放基金等。
  2. 获奖情况:获教育部高等学校自然科学一等奖、黑龙江省自然科学奖一等奖、二等奖、黑龙江省科技进步三等奖各一项。
  3. 发明专利情况:已获国家发明专利3项,实用新型1项。

学术荣誉

2009年全国百篇优秀博士学位论文获得者,导师:董申教授。

2011年获教育部新世纪人才支持计划。

2012年获优秀青年科学基金项目。

2012年获中组部青年拔尖人才支持计划。

2018年获科技部中青年科技创新领军人才称号。

发表论文

  1. Yongda Yan, Zhengjiang Hu, Xueshen Zhao, Tao Sun, Shen Dong, and Xiaodong Li. Top-Down Nanomechanical Machining of Three-Dimensional Nanostructures by Atomic Force Microscopy. Small. 2010, 6(6): 724-728
  2. Y. D. Yan, T. Sun, S. Dong. Investigation on effects of scratching directions on AFM-based nanomachined surface. Tribology International. 2009, 42: 66-70
  3. Yan YD, Zhang JJ, Sun T, et al. Nanobending of nanowires: A molecular dynamics study. Applied Physics Letters. 2008, 93(24): 241901.
  4. Yan YD, Sun T, Zhao XS, et al. Fabrication of microstructures on the surface of a micro/hollow target ball by AFM. Journal of Micromechanics and Microengineering. 2008, 18(3): 35002.
  5. Yan YD, Sun T, Liang YC, et al. Investigation on AFM-based micro/nano-CNC machining system. International Journal of Machine Tools & Manufacture. 2007, 47(11): 1651-1659.
  6. Y. D. Yan, T. Sun, S. Dong, Y. C. Liang. Study on effects of the feed on AFM-based nanolithography process using MD simulation. Computational Materials Science. 2007, 40: 1-5
  7. Yan YD, Sun T, Dong S. Study on effects of tip geometry on AFM nanoscratching tests. Wear. 2007, 262(3-4): 477-483.
  8. Y. D. Yan, T. Sun, S. Dong. Local surface quality improvement using AFM-based nano mechanical scratching method. Tribology Letters, 2007,28 (2): 157-162
  9. Yan YD, Sun T, Dong S, et al. Molecular dynamics simulation of processing using AFM pin tool. Applied Surface Science. 2006, 252(20): 7523-7531.
  10. Y. D. Yan, S. Dong, T. Sun. 3D force components measurement in AFM scratching tests. Ultramicroscopy. 2005, 105: 62-71

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